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InsightTM激光誘導擊穿光譜檢測系統 ——高靈敏微量分析從此變得簡單！

Insight激光誘導擊穿光譜檢測系統（LIBS）專門用于固體材料的微量分析： * 系統內部的標準分級光柵光譜儀可提供寬光譜讀取范圍（190-800+nm）以及高于0.1nm的全波段分辨率； * 系統能夠分析主成分元素和微量元素，圖譜內的30000多個像素點可在紫外范圍達到小于0.02nm譜線分辨率；

* 系統內的增強型CCD攝像頭在低光照度下具有很強的敏感度，增強了微量元素的光譜。

Insight系統內置的addLIBSTM軟件使等離子發射光譜分析變得簡單： * 通過addLIBS軟件您能夠使用部分美國國家標準技術研究院（NIST）圖譜庫或者國內圖譜庫來開發光譜、對光譜進行標注、使用已知樣品制定標定方法、手動標定或對未知光譜自動選擇標定方法; * 一旦標定方法制定完成，可以重復使用，也可以進行修改。

用于高保真測量: ◆經久耐用的釔鋁石榴石晶體激光（ND:YAG laser）、高靈敏的分級光柵光譜儀； ◆內置計時控制電路同步激光和光譜儀； ◆共焦可視面和激光平面，確保了測量的可重復性； ◆氣體凈化的樣品艙； ◆一級安全外殼。

功能強大，操作簡單: ◆樣品查詢和分析軟件工具； ◆用戶可選重復率； ◆用戶可通過軟件選擇激光光斑尺寸； ◆單點發射、脈沖和持續轟擊模式； ◆彩色視頻顯微鏡可實時顯示樣品圖像； ◆可選電腦控制x/y平臺，用于夾持樣品。

可選配置: ◆可調整、樣品共軸照明裝置； ◆可調激光能量； ◆可調光譜儀延遲； ◆軟件可選光斑尺寸（小于5μm至2mm，FWHW）；