TMS-320 透過(guò)率光譜分選儀
TMS-320 透過(guò)率光譜分選儀是⼀臺(tái)光學(xué)元件樣品透過(guò)率批量測(cè)試設(shè)備，⾼精度電動(dòng)位移平臺(tái)⼤幅提升了樣品測(cè)試速度，可⾃定義樣品測(cè)量區(qū)域，并記錄數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)樣品多孔/多點(diǎn)透過(guò)率⾃動(dòng)測(cè)量，適⽤于⼿機(jī)⾯板的多孔測(cè)試、陣列濾光⽚的⾼通量測(cè)試、鍍膜濾光⽚的質(zhì)檢、分級(jí)和均勻性檢測(cè)。
儀器特點(diǎn)
1. 單點(diǎn)檢測(cè)速度快，毫秒級(jí)；
2. 毫⽶級(jí)小樣品檢測(cè)；
3. 超⼤⾏程（可定制）、⽀持樣品⼤批量全檢；
4. 可對(duì)樣品進(jìn)⾏質(zhì)檢、分級(jí)。
測(cè)試對(duì)象
